网络研讨会
劳特巴赫 TRACE32® 和西门子 Tessent 嵌入式分析技术让 RISC-V 系统调试和分析变得更简单
处理器跟踪使软件开发人员能够获得重要的洞察力和取证能力，以管理构建嵌入式系统的风险。在本讲座中，西门子和劳特巴赫将概述如何利用处理器跟踪改进嵌入式软件和应用。我们将解释 RISC-V 高效跟踪（E-trace）规范，并介绍基于 Tessent Embedded Analytics 和 TRACE32® 调试和跟踪工具的 RISC-V 调试和跟踪组合解决方案的功能，包括演示。网络研讨会结束时，主讲人将进行现场问答。
西门子是 RISC-V 高效跟踪规范的主要贡献者。劳特巴赫是嵌入式系统调试和跟踪工具的领先供应商，也是 RISC-V 调试和跟踪标准的主要制定者。该演示将包括综合解决方案的演示，该解决方案显示，即使是基于异构、复杂 RISC-V 的芯片 ，也能进行高效、简单的调试和跟踪。
谁应参加
- SoC 架构师
- 软件设计师
- 嵌入式软件工程师
- 考虑使用或已在使用 RISC-V 的用户
你将学到什么
- 什么是 RISC-V 高效跟踪（E-trace）标准，它如何降低采用 RISC-V 的一些风险
- 如何利用它提供的非侵入式可见性来了解程序行为，以进行高级调试和代码优化
- Tessent 增强型跟踪编码器如何成为完整 SoC 调试解决方案的一部分
- 如何使用劳特巴赫的 TRACE32® 调试和跟踪工具，利用 Tessent 嵌入式分析技术深入了解 RISC-V SoC
